app/test: convert all tests to register system

[dpdk.git] / app / test / test.h

diff --git a/app/test/test.h b/app/test/test.h
index bba0ec5..98ab804 100644 (file)
--- a/app/test/test.h
+++ b/app/test/test.h
@@ -132,60 +132,11 @@ int commands_init(void);
 int main(int argc, char **argv);
 
 int test_pci(void);
-int test_memory(void);
-int test_per_lcore(void);
-int test_spinlock(void);
-int test_rwlock(void);
-int test_atomic(void);
-int test_byteorder(void);
-int test_prefetch(void);
-int test_cycles(void);
-int test_logs(void);
-int test_memzone(void);
-int test_ring(void);
-int test_table(void);
-int test_ring_perf(void);
-int test_mempool(void);
-int test_mempool_perf(void);
-int test_mbuf(void);
-int test_timer(void);
-int test_timer_perf(void);
-int test_malloc(void);
-int test_memcpy(void);
-int test_memcpy_perf(void);
-int test_hash(void);
-int test_hash_perf(void);
-int test_lpm(void);
-int test_lpm6(void);
-int test_debug(void);
-int test_errno(void);
-int test_tailq(void);
-int test_string_fns(void);
+int test_pci_run;
+
 int test_mp_secondary(void);
-int test_cpuflags(void);
-int test_eal_flags(void);
-int test_alarm(void);
-int test_interrupt(void);
-int test_version(void);
-int test_eal_fs(void);
-int test_cmdline(void);
-int test_func_reentrancy(void);
-int test_red(void);
-int test_sched(void);
-int test_meter(void);
-int test_acl(void);
-int test_kni(void);
-int test_power(void);
-int test_common(void);
-int test_pmd_ring(void);
-int test_ivshmem(void);
-int test_distributor(void);
-int test_distributor_perf(void);
-int test_kvargs(void);
-int test_devargs(void);
-int test_link_bonding(void);
 
-int test_pci_run;
+int test_ivshmem(void);
 
 typedef int (test_callback)(void);
 TAILQ_HEAD(test_commands_list, test_command);