app/test: convert all tests to register system
[dpdk.git] / app / test / test_byteorder.c
index e5d1cd4..a088489 100644 (file)
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 /*-
  *   BSD LICENSE
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  *   Copyright(c) 2010-2014 Intel Corporation. All rights reserved.
  *   All rights reserved.
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  *   Redistribution and use in source and binary forms, with or without
  *   modification, are permitted provided that the following conditions
  *   are met:
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+ *
  *     * Redistributions of source code must retain the above copyright
  *       notice, this list of conditions and the following disclaimer.
  *     * Redistributions in binary form must reproduce the above copyright
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  *     * Neither the name of Intel Corporation nor the names of its
  *       contributors may be used to endorse or promote products derived
  *       from this software without specific prior written permission.
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+ *
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  *   LIMITED TO, THE IMPLIED WARRANTIES OF MERCHANTABILITY AND FITNESS FOR
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 #include <unistd.h>
 #include <inttypes.h>
 
-#include <cmdline_parse.h>
-
 #include <rte_byteorder.h>
 
 #include "test.h"
@@ -54,7 +52,7 @@ static volatile uint64_t u64 = 0xdeadcafebabefaceULL;
  *   size (16, 32, 64 bits)
  */
 
-int
+static int
 test_byteorder(void)
 {
        uint16_t res_u16;
@@ -93,3 +91,9 @@ test_byteorder(void)
 
        return 0;
 }
+
+static struct test_command byteorder_cmd = {
+       .command = "byteorder_autotest",
+       .callback = test_byteorder,
+};
+REGISTER_TEST_COMMAND(byteorder_cmd);