test mbuf attach
[dpdk.git] / app / test / test_ring_hts_stress.c
1 /* SPDX-License-Identifier: BSD-3-Clause
2  * Copyright(c) 2020 Intel Corporation
3  */
4
5 #include "test_ring_stress_impl.h"
6
7 static inline uint32_t
8 _st_ring_dequeue_bulk(struct rte_ring *r, void **obj, uint32_t n,
9         uint32_t *avail)
10 {
11         return rte_ring_mc_hts_dequeue_bulk(r, obj, n, avail);
12 }
13
14 static inline uint32_t
15 _st_ring_enqueue_bulk(struct rte_ring *r, void * const *obj, uint32_t n,
16         uint32_t *free)
17 {
18         return rte_ring_mp_hts_enqueue_bulk(r, obj, n, free);
19 }
20
21 static int
22 _st_ring_init(struct rte_ring *r, const char *name, uint32_t num)
23 {
24         return rte_ring_init(r, name, num,
25                 RING_F_MP_HTS_ENQ | RING_F_MC_HTS_DEQ);
26 }
27
28 const struct test test_ring_hts_stress = {
29         .name = "MT_HTS",
30         .nb_case = RTE_DIM(tests),
31         .cases = tests,
32 };