app/test/test_ring_mt_peek_stress.c

   1 /* SPDX-License-Identifier: BSD-3-Clause
   2  * Copyright(c) 2020 Intel Corporation
   3  */
   4
   5 #include "test_ring_stress_impl.h"
   6 #include <rte_ring_elem.h>
   7
   8 static inline uint32_t
   9 _st_ring_dequeue_bulk(struct rte_ring *r, void **obj, uint32_t n,
  10         uint32_t *avail)
  11 {
  12         uint32_t m;
  13
  14         m = rte_ring_dequeue_bulk_start(r, obj, n, avail);
  15         n = (m == n) ? n : 0;
  16         rte_ring_dequeue_finish(r, n);
  17         return n;
  18 }
  19
  20 static inline uint32_t
  21 _st_ring_enqueue_bulk(struct rte_ring *r, void * const *obj, uint32_t n,
  22         uint32_t *free)
  23 {
  24         uint32_t m;
  25
  26         m = rte_ring_enqueue_bulk_start(r, n, free);
  27         n = (m == n) ? n : 0;
  28         rte_ring_enqueue_finish(r, obj, n);
  29         return n;
  30 }
  31
  32 static int
  33 _st_ring_init(struct rte_ring *r, const char *name, uint32_t num)
  34 {
  35         return rte_ring_init(r, name, num,
  36                 RING_F_MP_HTS_ENQ | RING_F_MC_HTS_DEQ);
  37 }
  38
  39 const struct test test_ring_mt_peek_stress = {
  40         .name = "MT_PEEK",
  41         .nb_case = RTE_DIM(tests),
  42         .cases = tests,
  43 };